2022-69
x射線數字成像技術，又稱為DR技術，數字射線成像技術等，下文將介紹一下X射線數字成像技術的基本概念和優缺點。圖像灰度之分辨率的定義(1)圖像灰度與對比度與膠片照相技術的黑度概念相對應，X射線數字成像技術引進灰度的概念。圖像中黑白的程度用灰度來描述，將圖像中黑白的變化范圍定義為256個灰度等級。顯示器上圖像較亮部位與相鄰較暗部位的灰度差稱為圖像對比度。(2)圖像分辯與圖像不清晰度圖像分辨率是指顯示器上可識別的線條能夠分離的最小間距，單位是每毫米線對(LP/mm)。一個線對由一根...
查看更多2022-530
工業CT是與一般輻射成像*不同的成像方法。一般輻射成像是將三維物體投影到二維平面成像，各層面影像重疊，造成相互干擾，不僅圖像模糊，而且損失了深度信息，不能滿足分析評價要求。CT是把被測體所檢測斷層孤立出來成像，避免了其余部分的干擾和影響，圖像質量高，能清晰、準確地展示所測部位內部的結構關系、物質組成及缺陷狀況，檢測效果是其它傳統的無損檢測方法所不及的。工業CT檢測四大優點：1、準確定位，圖像更易識別常規射線檢測技術主要是把三維物體投影到二維平面上，容易造成圖像信息的疊加，如果...
查看更多2022-520
壓鑄件X射線檢測是利用X射線的穿透能力，在工業上一般用于檢測一些眼睛所看不到的物品內部傷、斷或電路的短路等。比如說檢測多層基板內部電路有無短路，X射線可穿透基板的表面看到基板的內部電路，在X射線發生器對面有個數據接收器，自動的將接收到的輻射轉換成電信號并傳到擴張板中，并在電腦中轉換成特定的信號，通過的軟件將圖像在顯示器中顯示出來，這樣就可以通過肉眼觀測到基板的內部結構，而不用拿萬用表去慢慢測試。工業發展過程中，產品質量的要求不斷提升，關于焊接探傷過程中出現的各種問題，都容易引...
查看更多2022-516
在許多X射線無損探傷中，磁粉探測機可以說是一種應用比較廣泛的檢測工具，這主要是由于它的功能和優點。我國很多行業都在不斷的使用磁粉探測機，那么X射線無損探傷有哪些功能呢?今天在這一章中，和朋友們一起來了解和探討，希望對大家X射線無損探傷的質量有一些幫助。智能識別數字系統——它可以清晰地檢測到磁粉裂紋，檢測出磁痕，生成相同或更清晰的裂紋圖像。特別是對于圖像灰度不均勻的問題，可以增強原始圖像保存一些有用的信息。試驗結果的準確性和準確度令人滿意。多階段擬合裂紋檢測——根據一列裂紋的性...
查看更多2022-513
現如今X射線探傷機使用領域更加廣泛了，在探傷設備幫助下，工件與設備綜合使用品質就可保證。根據實際探傷檢測要求不同，進行合適無損探傷檢測防范選擇。無論探傷操作者選擇設備檢測方法，都會存在一定的探傷檢測局限性。任何探傷機的檢測使用性能都是有限的，大家在進行探傷檢測前，要進行仔細探傷檢測要求分析，而后根據實際探傷檢測標準選擇合適設備。為提升探傷設備的實用性，設備操作者還要仔細考慮被檢測工件的規格結構與材質因素。為提升探傷檢測設備綜合使用性能，大家要盡可能選擇具有綜合檢測特性設備。無...
查看更多2022-59
通常的X射線熒光光譜儀分為能量色散X射線熒光光譜儀（EDXRF）和波長色散X射線熒光光譜儀（WDXRF），其以X射線管出射譜照射樣品后產生的元素熒光射線是以能量色散型探測器直接探測（EDXRF）或是經分光晶體分光后探測器探測（WDXRF）為主要區別。單波長X射線熒光光譜儀是在X射線照射樣品前進行了X射線光的單色化入射，主要依靠雙曲面彎晶或者二次靶或者多層膜彎晶等技術，將X射線管出射譜中的單一能量衍射聚焦到樣品一點，激發樣品中元素熒光，這樣極大降低了由于X射線管出射譜韌致輻射照...
查看更多2022-426
無損檢測設備是指一類對材料或工件實施一種不損害或不影響其未來使用性能或用途的檢測儀器。它能發現材料或工件內部和表面所存在的缺欠，能測定材料或工件的內部組成、結構、物理性能和狀態等。無損檢測設備是工業發展的有效工具，在一定程度上反映了一個國家的工業發展水平，其重要性已得到*。大特點就是能在不損壞試件材質、結構的前提下進行檢測，所以實施無損檢測后，產品的檢查率可以達到100%。但是，并不是所有需要測試的項目和指標都能進行無損檢測，無損檢測技術也有自身的局限性。某些試驗只能采用破壞...
查看更多2022-422
工業CT常用的掃描方式是平移一旋轉(TR)方式和只旋轉(RO)方式兩種。RO掃描方式射線利用效率較高，成像速度較快。但TR掃描方式的偽像水平遠低于RO掃描方式，且可以根據樣品大小方便地改變掃描參數(采樣數據密度和掃描范圍)。特別是檢測大尺寸樣品時其*性更加明顯，源探測器距離可以較小，以提高信號幅度等。3D顯示計算機軟件圖像處理及計算能力方面的進步同樣是促使該技術不斷發展進步的一個重要因素，甚至可以說，沒有計算機軟件方面的進步，就沒有工業CT掃描技術應用如此廣泛的今天。工業CT...
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